雷公藤葉面積測(cè)量可加深人們對(duì)雷公藤生長的認(rèn)知，做好雷公藤種植工作。葉面積測(cè)量儀是常見的葉面積測(cè)量儀器。其對(duì)雷公藤葉的長寬比研究如下，葉子形態(tài)的研究涉及葉長寬比的研究,對(duì)所采集的20株計(jì)1997片雷公藤葉片樣本計(jì)算每片葉的長寬比,求出每株的均值和標(biāo)準(zhǔn)差,見表1.樣本平均數(shù)的可靠性檢驗(yàn):Ｐ=/ｎＸ×其中:湮?曜疾;ｎ為樣本個(gè)數(shù);Ｘ為樣本平均數(shù)Ｐ>5%為樣本平均數(shù)不可靠;3%≤ｐ≤5%樣本平均數(shù)可靠;ｐ<3%樣本平均數(shù)極可靠.從表2可見:可靠性Ｐ值都很小,所以可判斷樣本平均數(shù)極可靠.雖其單葉面積差異較大,但其葉形相對(duì)穩(wěn)定,一般為橢圓形。

葉面積測(cè)量儀分析葉面積5個(gè)常用方程的擬合，隨機(jī)抽取6株共610片雷公藤葉片進(jìn)行5個(gè)方程擬合(表2),由各擬合方程的結(jié)果可知:雷公藤的葉長、葉寬、葉長×葉寬與葉面積間存在高度正相關(guān)關(guān)系,其中以葉長×葉寬與葉面積回歸方程的相關(guān)系數(shù)最高,其次為葉寬,葉長最小,回歸方程均達(dá)極顯著水平.以葉面積與葉長寬乘積的一元線性回歸方程、一元冪回歸方程、多項(xiàng)式回歸方程3個(gè)公式的相關(guān)系數(shù)最大、擬合效果較好。

儀器名稱：葉面積測(cè)量儀

儀器型號(hào)：YMJ

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