葉面積測定儀作為一種直接測量葉面積參數(shù)的儀器，其可以直接測量的葉面積參數(shù)包括葉片質(zhì)量、形狀、長寬等參數(shù)，再轉(zhuǎn)換為面積。這是經(jīng)典的、成熟的LAI測量方法，具有最高的測量精度。其測量值通常被稱為真實葉面積指數(shù)，是間接測定的重要對比方法。該方法包括葉片采集和測量2個步驟。葉片采集方法有落葉箱法、代表植株法、區(qū)域采樣法等；測量方法有格點法、方格法、描形稱重法以及掃描和攝影等儀器測定法。由于直接測量對植物本身具有一定的破壞性，且必須人工采集葉片樣品，費時耗力，采樣不一定具有代表性，葉面積測定儀一般只用作科研，故實際測量和研究中常采用間接測量法。

間接測量法與直接測量法相比，葉面積測定儀能夠更快、更大范圍地對LAI進行測量，并且不對植物產(chǎn)生傷害，因此得到迅速發(fā)展和廣泛應(yīng)用。但是，采用這種方法得到的LAI往往偏低，不同類型的冠層低估范圍通常在25%～50%。雖然目前有許多方案能克服由于間接測量帶來的偏差，但并沒有根本地解決此類問題的產(chǎn)生。

儀器名稱：葉面積測量儀

儀器型號：YMJ

葉面積測量儀  http://www.plant17.net/