對于葉面積指數(shù)的測量，目前常見的方式有兩種，分別是直接測量和間接測量，直接測量法樹木解析法如稱重法、葉面積測量儀等已成功地應(yīng)用在農(nóng)業(yè)系統(tǒng)中。落葉收集法對四季分明的落葉樹種非常合適,但對那些常綠樹種就無用了。點(diǎn)接觸法是通過用一頭尖的細(xì)棒以不同的頂角和方位角插入植冠,然后記錄細(xì)棒從冠層頂部到底部的過程中跟棒尖相接觸的葉片數(shù)目來計(jì)算葉面積指數(shù)。此方法對于高大的林木和葉子高度密集的針葉林是不實(shí)際的。

間接測量法，光學(xué)儀器葉面積測量儀可以快速地進(jìn)行大面積測量,不破壞林木,節(jié)省人力物力,但也各有利弊。除TRAC外的測量儀都是假設(shè)葉片在空間的分布是隨機(jī)的,不考慮葉片的集聚效應(yīng),測出的是有效葉面積指數(shù)

儀器名稱：葉面積測量儀

儀器型號：YMJ

葉面積測量儀  http://www.plant17.net/