葉片面積測量的方式有很多，按照對葉片的損傷情況可分為無損測量和有損測量。有損測量必須在采摘葉片后進行，不僅取樣不便，破壞了植物體，還要花費大量時間，更無法進行對同一葉片進行動態(tài)測定。而葉面積儀的無損測量方法可以在葉片非離體的情況下，對同一植株葉面積進行重復(fù)測量，取多次測量的平均值，這樣就可以避免不同品種之間的誤差。一般的非破壞性估測葉面積是用系數(shù)法和直線回歸法，即測量葉片長與寬，并得出長和寬與實際葉面積之間的相關(guān)關(guān)系。

關(guān)于葉面積與測量值即葉長、寬和長與寬積之間關(guān)系在其他作物上已有較多報道，例如，對黃瓜、南瓜、葡萄、甜瓜和板栗等。但是，有關(guān)青椒葉面積非破壞性測定方法的研究卻報道很少。因此，本試驗以在溫室栽培不同青椒品種為試材，研究其葉長、葉寬及葉長×葉寬與實測葉面積之間的關(guān)系，建立普適性應(yīng)用模型，并驗證這些模型的可靠性和精確性，為青椒葉面積的非破壞性測定提供依據(jù)和方法。建立青椒葉面積非破壞性測定方法有其必要性和實用性。本研究以青椒為試驗材料，通過葉面積儀探討青椒葉面積非破壞性測定的可行性和科學(xué)性。

儀器名稱：葉面積儀

儀器型號：YMJ-A

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